Авторами разработан логико-статистический алгоритм определения сквозных пор по микрофотоизображениям сечений композиционных наноматериалов, основанный на булевских, морфологических и статистических операциях. Алгоритм практически применен для анализа последовательности микрофотоизображений на различной глубине сечения образца композиционного наноматериала карбид кремния/иттрий алюминиевый гранат (SiC/Y3Al5O12), полученных методом рентгеновской томографии.