1. Главная
  2. Библиотека
  3. Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Видеозаписи 132 видеозаписи

[18 из 33] Юрий Лотман — Культура и личность. Понятие интеллигентности
День балета–2022 LIVE
Шедевры Эрмитажа | Серия №3. Сокровище Ренессанса
Иван Гончаров. Обыкновенная история. Спектакль Московского театра "Современник" (1966)
Garshinka
Издательство «МИФ»
Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств И. О. Атовмян
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Fatal error: Uncaught Error: Call to a member function fetch_row() on false in /home/user/web/тумба.онлайн/private/versions/ver_5/pages/books_single.php:285 Stack trace: #0 /home/user/web/тумба.онлайн/private/versions/ver_5.php(577): include() #1 /home/user/web/тумба.онлайн/public_html/index.php(200): include('...') #2 {main} thrown in /home/user/web/тумба.онлайн/private/versions/ver_5/pages/books_single.php on line 285